La comparación GaN vs LDMOS suele empezar con dos amplificadores de potencia RF que anuncian el mismo Pout. Sin embargo, sus cifras de eficiencia, linealidad y temperatura quizá procedan de pruebas realizadas con distintas señales, niveles de excitación o condiciones de refrigeración.
La comparación se complica aún más cuando una ficha técnica describe el transistor y la otra presenta resultados del módulo completo. Las diferencias de ganancia, consumo o dimensiones pueden estar relacionadas con el semiconductor, pero también con las etapas excitadoras, las redes de adaptación y el diseño térmico.
Cambiar de tecnología tiene otras consecuencias. En una plataforma ya cualificada puede exigir una nueva PCB, cambios de polarización y alimentación, modificaciones de refrigeración y nuevos ensayos.
¿Cómo decidir qué tecnología conviene al proyecto y qué parte de las prestaciones anunciadas se ha demostrado realmente en el amplificador?
1. ¿Qué condiciones deben definirse antes de comparar GaN y LDMOS?

La elección parte de los requisitos del sistema. Para comparar dos arquitecturas, el integrador necesita definir:
- Frecuencia y ancho de banda: rango total, puntos prioritarios y ancho de banda instantáneo requerido.
- Potencia de salida: Pout mínimo, nominal, medio o de pico, según corresponda, y plano de referencia donde debe cumplirse.
- Potencia de entrada: Pin disponible en el conector del PA, considerando las pérdidas de la cadena de excitación.
- Señal y funcionamiento: forma de onda, ciclo de trabajo, relación entre potencia de pico y media, linealidad y output back-off.
- Condiciones térmicas: temperatura ambiente, temperatura de base o carcasa, montaje y duración de operación.
- Alimentación y refrigeración: tensión, corriente y potencia DC disponibles, además del método de extracción de calor.
- Integración y vida útil: tamaño, peso, carga RF, VSWR, elementos reutilizables de la plataforma, disponibilidad de componentes y vida útil prevista.
Algunos requisitos son obligatorios. Un candidato que no cubre una frecuencia crítica o no alcanza el Pout mínimo queda fuera de la selección, aunque presente mejores resultados en otros indicadores.
Planos de referencia y condiciones pendientes
Pin corresponde a la potencia RF en el plano de entrada definido para el amplificador. Pout corresponde a la potencia RF en el plano de salida acordado.
Por ejemplo, una medida tomada en RF OUT del PA no equivale a otra realizada después de un filtro y un cable. Para comparar esos resultados hay que corregir las pérdidas o medir en el mismo plano de referencia.
También importa el alcance de cada especificación: transistor, etapa de potencia, módulo o subsistema completo.
Si el proyecto todavía no ha definido una condición decisiva, como Pin, Pout, forma de onda o estado térmico, la comparación debe registrarse como Aún no comparable. Los valores típicos del catálogo pueden orientar la revisión inicial, pero no sustituir un requisito pendiente.
2. ¿Qué cambia realmente al utilizar GaN o LDMOS?
GaN (nitruro de galio) es un material semiconductor utilizado en determinados dispositivos RF de potencia. LDMOS corresponde a una estructura de MOSFET de difusión lateral (Laterally Diffused MOSFET), habitualmente implementada en silicio.
Las características de los dispositivos influyen en las frecuencias de operación, la ganancia, la densidad de potencia, la polarización y las impedancias que deben adaptarse.
El amplificador terminado incorpora otros elementos que también determinan su rendimiento: etapas excitadoras, redes de adaptación, combinación de potencia, encapsulado, conexiones térmicas y protecciones.
La relación entre estos niveles es:
Dispositivo semiconductor → Arquitectura RF → Módulo terminado → Sistema instalado
Dos amplificadores que utilizan GaN pueden comportarse de forma muy distinta si sus redes de adaptación, etapas de ganancia o sistemas de refrigeración no son iguales. Lo mismo ocurre con dos plataformas LDMOS.
Al revisar un proveedor, conviene identificar qué resultados corresponden al dispositivo activo, cuáles al módulo y cuáles dependen de la instalación.
3. ¿Cuándo conviene evaluar primero una solución GaN?
GaN puede merecer una evaluación prioritaria cuando el proyecto combina frecuencias elevadas, cobertura amplia, alta potencia RF o restricciones exigentes de tamaño, peso y consumo (SWaP).
También puede ser una opción cuando la potencia de excitación disponible es limitada, siempre que la ganancia y el Pin requerido por el módulo permitan trabajar dentro de ese margen.
Frecuencia, ganancia y densidad de potencia
Determinados dispositivos GaN presentan características favorables para diseñar amplificadores de alta frecuencia y elevada densidad de potencia.
Sus tensiones de operación e impedancias permiten explorar arquitecturas diferentes de las utilizadas habitualmente con LDMOS.
La ventaja debe comprobarse en el amplificador terminado. Por ejemplo, una tensión de operación más elevada en el transistor no asegura un menor consumo DC del módulo. Tampoco una amplia capacidad de frecuencia del dispositivo demuestra el Pout o la linealidad que entregará el conjunto.
Cuando se utilizan varias portadoras, deben evaluarse también la potencia compuesta, los picos de señal, el output back-off y las emisiones no deseadas.
Densidad de potencia y refrigeración
Un módulo compacto facilita ciertas instalaciones, pero concentra el calor en una superficie menor. La temperatura alrededor del dispositivo activo depende de cómo se distribuye ese calor y de la calidad de sus interfaces térmicas.
La disipación total y la temperatura del punto más caliente son magnitudes diferentes.
Para valorar una arquitectura GaN hay que revisar el encapsulado, la resistencia térmica, el contacto con la base, el método de refrigeración y las medidas obtenidas en el estado de funcionamiento requerido.
Priorizar GaN significa evaluar primero esa arquitectura. La aceptación dependerá del módulo concreto y de sus resultados de ensayo.
4. ¿Cuándo LDMOS sigue siendo una opción adecuada?
LDMOS puede resultar conveniente cuando el proyecto dispone de una plataforma desarrollada y cualificada que ya cumple sus requisitos.
La posibilidad de conservar la alimentación, la polarización, las redes de adaptación, los disipadores, las interfaces y los procesos de fabricación puede evitar modificaciones costosas.
El valor de una plataforma ya cualificada
Sustituir una etapa LDMOS por GaN puede requerir cambios en la PCB, la adaptación de impedancias, la alimentación y la refrigeración.
Si esa sustitución obliga a fabricar prototipos y repetir la cualificación, el esfuerzo adicional debe compararse con las ventajas que se esperan de la nueva arquitectura.
La documentación también debe dejar claro qué está cualificado: el transistor, una placa de evaluación, el módulo o la configuración completa del sistema.
Cuándo conservar LDMOS
Una plataforma existente sigue siendo válida si cumple los nuevos requisitos de frecuencia, Pin, Pout, señal, carga y temperatura.
Si cambia el punto de operación, puede ser necesario repetir parte de los ensayos, aunque el diseño físico permanezca igual.
LDMOS merece prioridad cuando satisface los requisitos y permite aprovechar una plataforma cuya integración o cualificación ya está demostrada.
La continuidad de suministro y las posibles sustituciones de componentes se revisan aparte, dentro del análisis de ciclo de vida.
5. ¿Por qué la elección no siempre es GaN o LDMOS?
Un amplificador puede contener varias etapas RF, y cada una puede tener necesidades diferentes de frecuencia, ganancia y potencia.
Por esa razón, algunas arquitecturas combinan tecnologías. En otros proyectos resulta más práctico conservar dos candidatos completos hasta disponer de resultados comparables.
Cuatro posibles decisiones
| Resultado | Qué significa para el proyecto |
|---|---|
| Priorizar GaN | Evaluar primero una arquitectura GaN por su posible adecuación a los requisitos técnicos |
| Priorizar LDMOS | Conservar una ruta LDMOS que cumple los requisitos y ofrece ventajas verificables de reutilización o integración |
| Mantener arquitectura híbrida o dos candidatos | Continuar con más de una alternativa cuando la arquitectura o los resultados disponibles lo justifican |
| Pausar la decisión | Completar condiciones obligatorias o evidencias que todavía impiden una comparación válida |
La elección debe hacerse entre arquitecturas completas y bajo los requisitos del mismo proyecto. Los resultados de un transistor individual no permiten evaluar por sí solos el comportamiento de un módulo terminado.
Si la aplicación no exige una tecnología concreta por razones de certificación, compatibilidad o suministro, el RFQ puede definir las prestaciones y dejar abierta la elección de dispositivos.
6. ¿Cómo comparar la eficiencia y la carga térmica?
Antes de comparar cifras de eficiencia, hay que conocer qué magnitud mide cada proveedor y qué consumos eléctricos incluye.
La eficiencia de una etapa de potencia no equivale necesariamente a la del módulo completo, que puede incorporar excitadores, circuitos auxiliares y otras cargas.
Eficiencia de drenador, PAE y eficiencia del módulo
Eficiencia de drenador
En una etapa basada en FET, relaciona su potencia RF de salida con la potencia DC suministrada al drenador:
Eficiencia de drenador (%) = (Pout de la etapa / PDC del drenador) × 100
El cálculo no incluye automáticamente las demás etapas del amplificador ni los circuitos auxiliares.
Power Added Efficiency (PAE)
La eficiencia añadida de potencia se calcula como:
PAE (%) = ((Pout − Pin) / PDC) × 100
Pin, Pout y PDC deben corresponder al límite de medición declarado. Para realizar el cálculo, las potencias se expresan en unidades lineales coherentes, como vatios, y no se introducen directamente valores en dBm.
Eficiencia DC-RF del módulo
Relaciona la potencia RF de salida con la potencia DC consumida dentro del límite definido para el módulo:
Eficiencia DC-RF del módulo (%) = (Pout del módulo / PDC del módulo) × 100
El informe debe indicar si incluye el consumo de las etapas excitadoras, el control y otros elementos auxiliares.
Cuando Pin es significativo, esta relación no equivale a PAE.
El Pin real y el punto de operación
Para comparar GaN y LDMOS deben definirse el mismo objetivo de Pout y condiciones equivalentes de frecuencia, señal, carga y temperatura.
No es necesario aplicar a ambos módulos el mismo Pin numérico. Sus ganancias y necesidades de excitación pueden ser diferentes.
Cada candidato debe alcanzar el Pout exigido con la potencia de entrada que puede proporcionarle el sistema. Ese Pin se mide en su plano de referencia y se utiliza en el cálculo de PAE correspondiente.
La tensión DC tampoco tiene que ser idéntica si los módulos requieren alimentaciones diferentes. Ambos deben trabajar dentro de sus especificaciones y de los límites del proyecto, con Vdc, Idc y el alcance del consumo claramente registrados.
Cuando las métricas o los límites físicos no coinciden, los resultados se clasifican como Parcialmente comparables o Aún no comparables.
Disipación total y temperatura local
Una menor disipación total puede aliviar la carga térmica del gabinete. La temperatura local del dispositivo, en cambio, depende de la concentración del calor y de la ruta térmica disponible.
El encapsulado, la resistencia térmica, el contacto con la base y la refrigeración influyen en esa temperatura.
La comparación debe incluir la disipación total, los puntos térmicos críticos y la capacidad de extracción de calor, utilizando condiciones equivalentes de montaje y funcionamiento.
7. ¿GaN o LDMOS ofrece mejor linealidad, protección y fiabilidad?
Estas tres características deben comprobarse en el diseño concreto del amplificador, con criterios de ensayo adecuados a la aplicación.
Linealidad, back-off y DPD
La comparación de linealidad requiere definir la frecuencia, la forma de onda, el ancho de banda ocupado, el Pout, la polarización, el back-off y el estado térmico.
Según la señal utilizada, los criterios de aceptación pueden incluir:
- EVM: calidad de una señal modulada cuando este indicador resulta aplicable.
- ACLR / ACPR: potencia emitida en canales adyacentes.
- IMD: productos de intermodulación.
- Compresión y potencia media utilizable: límites de operación con la forma de onda requerida.
La predistorsión digital (Digital Predistortion, DPD) permite reducir determinadas distorsiones mediante procesamiento de señal.
Un resultado con DPD activada y otro sin DPD corresponden a condiciones distintas. Pueden compararse como arquitecturas completas cuando ese sea precisamente el objetivo de la evaluación.
Carga desadaptada y protección VSWR
Para evaluar la respuesta ante una carga desadaptada hay que especificar algo más que un valor de VSWR.
El ensayo debe indicar la magnitud y fase de la desadaptación, el plano de carga, la frecuencia, la excitación, la señal, la duración y el estado térmico.
También debe identificarse la respuesta exigida. Mantener el Pout, reducir potencia, silenciar la salida, activar un apagado y recuperar el funcionamiento representan comportamientos diferentes.
Del mismo modo, soportar una condición de carga sin daños permanentes no equivale necesariamente a mantener la salida durante todo el evento.
Fiabilidad y trazabilidad
La evidencia de fiabilidad debe identificar el nivel ensayado: transistor, placa de evaluación, muestra, lote o módulo completo.
También deben conocerse las condiciones de esfuerzo, la duración, la temperatura y los criterios de fallo.
Cuando el proyecto exige aceptación individual, los resultados deben vincularse al número de serie (S/N) y a la revisión correspondiente. Los ensayos de una muestra no sustituyen por sí solos los resultados requeridos para cada unidad.
8. ¿Cómo comparar el coste total y el riesgo de suministro?
El coste de un PA RF depende de la arquitectura completa, no únicamente del precio del transistor.
Una tecnología puede necesitar más trabajo de integración, mientras que otra permite reutilizar componentes y procedimientos ya cualificados.
La evaluación debe incluir adquisición, integración, consumo, rediseño, recualificación y continuidad de suministro.
Coste de la plataforma
La etapa excitadora, la alimentación, las redes de adaptación, los combinadores, la linealización, el control, la refrigeración y el gabinete influyen en el coste final.
Si cambiar de tecnología obliga a modificar varios de estos elementos, también habrá que considerar prototipos, nuevos ensayos y documentación de cualificación.
Por eso, el presupuesto debe comparar las arquitecturas propuestas para el proyecto. El precio unitario de los transistores no basta para elegir.
Ciclo de vida y sustitución de componentes
Cada candidato necesita una revisión de su estado comercial, las notificaciones de cambios, posibles retiradas y alternativas de suministro.
Incluso dentro de una misma tecnología, dos dispositivos pueden presentar diferentes requisitos de polarización, adaptación, encapsulado o montaje térmico.
Una sustitución puede exigir nuevas pruebas. Las decisiones de suministro deben basarse en documentos y condiciones comerciales vigentes.
9. Matriz de decisión GaN vs LDMOS
La siguiente matriz es una plantilla de evaluación. No contiene resultados de ensayos ya realizados.
Las columnas de evidencia indican qué debe aportar cada candidato. Las columnas de estado se dejan sin evaluar hasta recibir información del modelo, su revisión y los ensayos correspondientes.
El símbolo — indica que todavía no se ha emitido una valoración. Al completar la matriz, utilice Sí / No / Pendiente para la alineación de condiciones y Comparable / Parcialmente comparable / Aún no comparable para la comparabilidad.
Matriz de comparación técnica
| Condición | Requisito del proyecto | Evidencia GaN requerida | Evidencia LDMOS requerida | ¿Condiciones alineadas? | Comparabilidad | Efecto en la decisión | Próxima acción |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Frecuencia e IBW | Banda, puntos críticos y ancho de banda instantáneo | Curvas y ensayos del modelo | Datos equivalentes del modelo | — | — | Excluir rutas que incumplen la cobertura obligatoria | Solicitar medidas faltantes |
| Pout y referencia | Pout mínimo, definición y plano de salida | Pout corregido y condiciones | Medidas equivalentes | — | — | Confirmar cumplimiento de potencia | Revisar Pin, DC, señal, carga y estado térmico |
| Pin y ganancia | Pin disponible y ganancia requerida | Pin real, ganancia y referencia | Datos equivalentes | — | — | Determinar necesidades de excitación | Comprobar compatibilidad con la fuente RF |
| Señal y linealidad | Forma de onda, back-off y límites espectrales | Ensayos con estado de DPD identificado | Ensayos con estado de DPD identificado | — | — | Verificar calidad de señal | Solicitar EVM, ACLR/ACPR o IMD aplicable |
| Eficiencia | Métrica, Pout objetivo y límite DC | PAE, drenador o módulo con condiciones | Métricas equivalentes | — | — | Comparar consumo y disipación | Normalizar alcance DC y Pin real |
| Disipación y calor local | Disipación y temperaturas críticas | Resultados térmicos del módulo | Resultados equivalentes | — | — | Identificar límites térmicos | Revisar montaje y estado estabilizado |
| Refrigeración | Capacidad térmica del gabinete | Requisitos de refrigeración | Requisitos equivalentes | — | — | Verificar compatibilidad de instalación | Completar evaluación térmica |
| SWaP y dimensiones | Tamaño, peso, consumo e interfaces | Planos y datos mecánicos | Datos equivalentes | — | — | Comprobar restricciones físicas | Solicitar planos e interfaces externas |
| VSWR y protección | Desadaptación, fase, duración y recuperación | Ensayos de protección | Ensayos equivalentes | — | — | Verificar comportamiento admitido | Alinear carga y método de ensayo |
| Reutilización de plataforma | Elementos que pueden conservarse | Cambios necesarios para GaN | Cambios necesarios para LDMOS | — | — | Valorar trabajo de integración | Comparar listas de modificaciones |
| Rediseño y recualificación | Ingeniería, ensayos y certificación | Alcance y coste de la ruta GaN | Alcance y coste de la ruta LDMOS | — | — | Evaluar riesgo técnico y económico | Completar estimaciones |
| Ciclo de vida y suministro | Disponibilidad, cambios y alternativas | Documentación comercial actual | Documentación equivalente | — | — | Evaluar continuidad del proyecto | Solicitar información vigente |
Deslice horizontalmente para comparar todas las columnas →
Cómo interpretar los resultados
La evaluación debe terminar en una de cuatro rutas: Priorizar GaN, Priorizar LDMOS, Mantener arquitectura híbrida o dos candidatos, o Pausar la decisión.
Por ejemplo, una ventaja de eficiencia no compensa el incumplimiento de una frecuencia obligatoria. Reutilizar una plataforma tampoco aporta valor si no cumple las nuevas condiciones de operación.
Cuando falte evidencia para un requisito decisivo, registre la información pendiente antes de elegir una arquitectura.
10. ¿Cómo convertir la comparación en un RFQ verificable?
Si el proyecto no exige una tecnología específica por razones de certificación, compatibilidad o suministro, el RFQ puede dejar abierta la elección entre GaN, LDMOS u otra arquitectura admisible.
El proveedor deberá identificar la solución propuesta y presentar documentación del módulo completo.
La siguiente tabla organiza las condiciones que debe recibir el fabricante y las evidencias que permitirán evaluar su propuesta.
Lista de evidencias para el RFQ
| Requisito RFQ | Condición del proyecto | Evidencia solicitada | Condiciones de ensayo | Alcance de producto o muestra | Uso de la evidencia | Acción si falta |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Frecuencia e IBW | Banda, puntos críticos e IBW | Ficha técnica y ensayos | Frecuencias y estados requeridos | Modelo y revisión | Cualificación y comparación | Solicitar medidas pendientes |
| Pout y referencia | Potencia mínima y plano | Informe de Pout corregido | Pin real, Vdc/Idc, señal, carga y estado térmico | Modelo y muestra | Cualificación y aceptación | Solicitar datos comparables |
| Pin y ganancia | Pin disponible y margen | Ganancia y condiciones de entrada | Plano de Pin y pérdidas de excitación | Módulo y cadena propuesta | Cualificación y comparación | Revisar etapa excitadora |
| Señal y linealidad | Forma de onda, back-off y DPD | Ensayos de potencia y linealidad | Señal y criterios espectrales aplicables | Módulo y procesamiento | Cualificación y aceptación | Solicitar ensayos equivalentes |
| Alimentación y eficiencia | DC y métrica requerida | Consumo, Pin, Pout y eficiencia | Pout objetivo, límite DC y estado térmico | Módulo o subsistema | Comparación y cualificación | Normalizar métricas |
| Temperatura y refrigeración | Ambiente, montaje y operación | Ensayos térmicos | Potencia, refrigeración y estado térmico | Configuración de montaje | Cualificación y aceptación | Completar pruebas en caliente |
| SWaP e interfaces | Dimensiones, peso y conexiones | Planos y lista de cambios | Configuración prevista | Módulo o subsistema | Cualificación y comparación | Revisar arquitectura |
| Carga y VSWR | Desadaptación y protección admisible | Ensayos específicos | Fase, frecuencia, señal, duración y temperatura | Módulo y lógica de protección | Cualificación y aceptación | Solicitar pruebas de carga |
| Arquitectura permitida | GaN, LDMOS, híbrida o neutra | Descripción de etapas y dispositivos | Cadena completa propuesta | Configuración integral | Cualificación y comparación | Aclarar restricciones |
| Versión documental | Revisión y trazabilidad | Documentos controlados e informes | Método y límites identificados | Modelo, muestra o S/N | Cualificación y aceptación | Solicitar documentación válida |
| Ciclo de vida | Vida útil y control de cambios | Estado comercial y alternativas | Fecha y alcance vigentes | Dispositivo y módulo | Cualificación del proveedor | Revisar continuidad |
Deslice horizontalmente para comparar todas las columnas →
El proveedor debe distinguir las configuraciones que ya cuentan con evidencia suficiente, las que necesitan ensayos adicionales y las que requieren cambios de diseño.
Los requisitos que todavía no estén definidos deben aparecer como pendientes en la solicitud.
11. ¿Cómo relacionar la decisión con los módulos de RF SKYPOWER?
La comparación tecnológica ayuda a identificar arquitecturas candidatas. Para aprobar un modelo específico hay que revisar su configuración y sus resultados de ensayo.
RF SKYPOWER no debe presentar GaN y LDMOS como dos líneas estándar equivalentes sin documentación que lo respalde. La tecnología y la disponibilidad comercial deben comprobarse para cada modelo.
Tres rutas para continuar
| Situación | Ruta de revisión |
|---|---|
| La aplicación está definida y no exige cobertura continua amplia | Revisar módulos existentes y posibilidades de adaptación |
| La cobertura amplia, varias bandas o un IBW elevado condicionan el diseño | Comparar familias de banda ancha y su rendimiento en los puntos críticos |
| Los productos publicados no cubren un requisito o faltan datos decisivos | Solicitar evaluación de ingeniería con requisitos y evidencias pendientes |
Familias de banda ancha para la preselección
RF SKYPOWER publica modelos y fichas técnicas para cinco familias: 30–512, 300–1200, 300–1700, 300–2700 y 2000–6000 MHz.
Los rangos 6000–8000 MHz y 6000–18000 MHz también pueden plantearse como consultas técnicas, sin asumir que exista una gama estándar completa y documentada en ellos.
Módulos amplificadores RF de banda ancha
Seleccione una banda para comparar cinco modelos y abrir sus fichas técnicas en español.
30–512 MHz · 5 modelos estándar
| Potencia | Modelo / PDF | Psat mín. / típ. | Corriente típ. / máx. | Dimensiones | RF IN / RF OUT | Control |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 30 W | HZ30512-30NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 25 / 30 W | 3,2 / 4 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 50 W | HZ30512-50NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 40 / 50 W | 7,2 / 9 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 100 W | HZ30512-100NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 80 / 100 W | 14,5 / 18 A | 160 × 120 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 150 W | HZ30512-150NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 120 / 150 W | 16 / 20 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 200 W | HZ30512-200NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 160 / 200 W | 29 / 36 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
300–1200 MHz · 5 modelos estándar
| Potencia | Modelo / PDF | Psat mín. / típ. | Corriente típ. / máx. | Dimensiones | RF IN / RF OUT | Control |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 30 W | HZ3001200-30Ver ficha técnica PDF ↗ | 25 / 30 W | 2,4 / 3 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 50 W | HZ3001200-50Ver ficha técnica PDF ↗ | 40 / 50 W | 5,6 / 7 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 100 W | HZ3001200-100Ver ficha técnica PDF ↗ | 80 / 100 W | 11,5 / 14 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 150 W | HZ3001200-150Ver ficha técnica PDF ↗ | 120 / 150 W | 18 / 22 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 200 W | HZ3001200-200Ver ficha técnica PDF ↗ | 160 / 200 W | 24 / 29 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
300–1700 MHz · 5 modelos estándar
| Potencia | Modelo / PDF | Psat mín. / típ. | Corriente típ. / máx. | Dimensiones | RF IN / RF OUT | Control |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 30 W | HZ3001700-30Ver ficha técnica PDF ↗ | 25 / 30 W | 2,4 / 3 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 50 W | HZ3001700-50Ver ficha técnica PDF ↗ | 40 / 50 W | 5,6 / 7 A | 160 × 120 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 100 W | HZ3001700-100Ver ficha técnica PDF ↗ | 80 / 100 W | 11,5 / 14 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 150 W | HZ3001700-150Ver ficha técnica PDF ↗ | 120 / 150 W | 18 / 22 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 200 W | HZ3001700-200Ver ficha técnica PDF ↗ | 158 / 200 W | 24 / 29 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
300–2700 MHz · 5 modelos estándar
| Potencia | Modelo / PDF | Psat mín. / típ. | Corriente típ. / máx. | Dimensiones | RF IN / RF OUT | Control |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 30 W | HZ3002700-30NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 25 / 30 W | 3,2 / 4 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 50 W | HZ3002700-50NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 40 / 50 W | 7,2 / 9 A | 160 × 120 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 100 W | HZ3002700-100NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 80 / 100 W | 14,5 / 18 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 150 W | HZ3002700-150NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 120 / 150 W | 16 / 20 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 200 W | HZ3002700-200NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 160 / 200 W | 29 / 36 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
2000–6000 MHz · 5 modelos estándar
| Potencia | Modelo / PDF | Psat mín. / típ. | Corriente típ. / máx. | Dimensiones | RF IN / RF OUT | Control |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 30 W | HZ20006000-30NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 25 / 30 W | 3,2 / 4 A | 125 × 59 × 21,5 mm | SMA-KFD46 / SMA-KFD46 | D-Sub de 9 pines |
| 50 W | HZ20006000-50NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 40 / 50 W | 10 / 12 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 100 W | HZ20006000-100NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 80 / 100 W | 19 / 24 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 150 W | HZ20006000-150NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 120 / 150 W | 22 / 27 A | 200 × 158 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
| 200 W | HZ20006000-200NA1Ver ficha técnica PDF ↗ | 160 / 200 W | 29 / 36 A | 280 × 250 × 25 mm | SMA-F / N-F | D-Sub de 15 pines |
Consulte el PDF de cada modelo para el rango de excitación RF y los detalles de protección y funciones opcionales.
Las frecuencias, la clase de potencia y Psat permiten identificar candidatos. Para decidir si cumplen el proyecto se necesitan también la forma de onda, el Pin disponible, el Pout útil, las condiciones térmicas y los criterios de aceptación.
Si ningún modelo publicado cubre un requisito obligatorio, puede estudiarse una adaptación o un desarrollo personalizado sujeto a viabilidad técnica.
Conclusión
GaN y LDMOS deben compararse según las prestaciones que exige el proyecto y las pruebas disponibles del amplificador terminado. GaN puede ser una ruta prioritaria cuando la frecuencia, el ancho de banda, la densidad de potencia o las restricciones de SWaP favorecen su arquitectura. LDMOS puede resultar más conveniente cuando cumple esos requisitos y permite aprovechar una plataforma ya cualificada con menor coste y riesgo de integración.
Si distintas etapas necesitan soluciones diferentes, una arquitectura híbrida puede seguir siendo válida. Cuando faltan datos decisivos, conviene conservar ambos candidatos hasta disponer de pruebas comparables.
La selección final requiere resultados de Pin, Pout, señal, eficiencia, alimentación, temperatura y carga bajo condiciones y límites de medición definidos.
Para comparar arquitecturas GaN, LDMOS u otras alternativas, comparta las frecuencias requeridas, el Pin disponible, el Pout y su plano de referencia, la forma de onda, las condiciones térmicas y los criterios de aceptación. Puede contactar con el equipo de ingeniería de RF SKYPOWER para revisar los módulos disponibles o estudiar una configuración adaptada al proyecto.

































